EUR-Lex Access to European Union law

Back to EUR-Lex homepage

This document is an excerpt from the EUR-Lex website

Document 32022R0001R(01)

Labojums Komisijas Deleģētajā regulā (ES) 2022/1 (2021. gada 20. oktobris), ar ko groza Eiropas Parlamenta un Padomes Regulu (ES) 2021/821 attiecībā uz divējāda lietojuma preču sarakstu (“Eiropas Savienības Oficiālais Vēstnesis” L 3, 2022. gada 6. janvāris)

OV L 20, 31.1.2022, p. 282–282 (BG, ES, CS, DA, DE, ET, EL, EN, FR, GA, HR, IT, LV, LT, HU, MT, NL, PL, PT, RO, SK, SL, FI, SV)

ELI: http://data.europa.eu/eli/reg_del/2022/1/corrigendum/2022-01-31/oj

31.1.2022   

LV

Eiropas Savienības Oficiālais Vēstnesis

L 20/282


Labojums Komisijas Deleģētajā regulā (ES) 2022/1 (2021. gada 20. oktobris), ar ko groza Eiropas Parlamenta un Padomes Regulu (ES) 2021/821 attiecībā uz divējāda lietojuma preču sarakstu

( “Eiropas Savienības Oficiālais Vēstnesis” L 3, 2022. gada 6. janvāris )

142. lappusē pielikuma 3B001. punkta f. apakšpunktu aizstāj ar šādu:

“f.

litogrāfijas iekārtas:

1.

salāgošanas un eksponēšanas soļa un atkārtošanas (tiešais solis uz sagataves) vai soļa un skenēšanas iekārtas pusvadītāju sagatavju disku apstrādei, lietojot fotooptisku vai rentgenstaru metodi, kurām ir kāds no šiem raksturlielumiem:

a.

gaismas avota viļņu garums mazāks par 193 nm; vai

b.

spēj formēt trafaretattēlu ar ‘mazāko atšķiramu detaļu lielumu’ (MRF) 45 nm vai mazāku;

Tehniska piezīme:

‘Mazāko atšķiramu detaļu lielumu’ (MRF) aprēķina ar šādu formulu:

Image 1

kur K koeficients = 0,35

2.

litogrāfijas iespiediekārtas, ar kurām var iespiest elementus, kuru izmēri nepārsniedz 45 nm;

Piezīme:

3B001.f.2. pozīcija ietver turpmāko:

kontakta mikrodrukas ierīces;

karstspieduma ierīces;

nanodrukas litogrāfijas ierīces;

step and flash drukas (S-FIL) litogrāfijas ierīces

3.

masku izgatavošanai speciāli konstruētas iekārtas ar visiem šādiem raksturlielumiem:

a.

novirzīts fokusēts elektronu kūlis, jonu kūlis vai “lāzera” staru kūlis; un

b.

kam ir jebkura no šādām īpašībām:

1.

pilna platuma pusmaksimuma (FWHM) punkta izmērs ir mazāks par 65 nm un attēla novietojums ir mazāks par 17 nm (vidējais + 3 sigmas); vai

2.

netiek lietots;

3.

maskas otrā slāņa pārklājuma kļūda ir mazāka par 23 nm (vidējais + 3 sigmas);

4.

Iekārtas, kuras konstruētas ierīču apstrādei, lietojot tiešās rakstīšanas metodes, un kurām ir visi šādi raksturlielumi:

a.

novirzīts fokusēts elektronu kūlis; un

b.

kam ir jebkura no šādām īpašībām:

1.

minimālais kūļa izmērs ir 15 nm vai mazāks; vai

2.

pārklājuma kļūda ir mazāka par 27 nm (vidējais + 3 sigmas);”.


Top